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白井 稔三; 岡崎 清比古*; Sugar, J.*
Journal of Physical and Chemical Reference Data, 24(4), p.1577 - 1608, 1995/00
被引用回数:25 パーセンタイル:75.5(Chemistry, Multidisciplinary)波長、エネルギー準位、電離エネルギー、遷移、強度、遷移確率のデータを評価してまとめた。但し、KrXIからKrXVIIについては、測定するデータは無かった。スペクトル線同定と波長測定に関するレビューを各電離状態について与えた。調査した文献は、1995年2月までに発表された文献である。
馬場 祐治; G.Dujardin*; P.Feulner*; D.Menzel*
表面科学, 13(5), p.244 - 248, 1992/07
白金(111)単結晶表面に吸着したアルゴン及びクリプトンに関し、電子衝撃による正イオンの脱離挙動を10~120eVのエネルギー範囲で調べた。Arの脱離が起こるための照射エネルギー閾値は83eVであり、これはArの生成及びそれに伴うArArからArr又はArArへの遷移による隣接イオンのクーロン反発力により説明できる。一方、Ar及びArの脱離は24.2,25.4,34及び50eVに閾値が認められた。最初の2つの閾値は、それぞれ、表面及びバルクのエキシトン(励起子)対の生成に対応する。脱離のエネルギー閾値及び脱離強度の吸着層依存性の解析により、エキシトン対生成による脱離の機構について議論した。
馬場 祐治; G.Dujardin*; P.Feulner*; D.Menzel*
Physical Review Letters, 66(25), p.3269 - 3272, 1991/06
被引用回数:24 パーセンタイル:78.28(Physics, Multidisciplinary)固体アルゴン及びクリプトンからのAr、Ar、Ar及びKrイオンの電子衝撃脱離(ESD)挙動を10~120eVの照射エネルギー範囲で調べた。脱離に必要な照射エネルギーのしきい値は、Ar及びArで24.2eV、Krで30eVであった。またArはArの生成に対応する84eVにおいて初めて脱離する。Arの脱離では、24.2eV、25.4eV、34eV、50eVに共鳴構造が認められた。前者2つの構造は、表面及びバルクに存在する隣接する2原子のエキシトン生成に対応する。25.4eVの脱離ピーク強度の厚み依存性を調べたところ、バルクのエキシトン対の拡散は、100層以上にも及ぶことが明らかとなった。
小川 徹; Verrall, R. A.*; Hj.Matzke*; P.G.Lucata*
Solid State Ionics, 49, p.211 - 216, 1991/00
被引用回数:4 パーセンタイル:33.15(Chemistry, Physical)(Th,U)Oに40keVでKrイオンを注入し、等時加熱放出挙動を調べた。加熱雰囲気は空気であった。イオン注入前に水素焼鈍を施した試料では、Krの放出は弱い捕獲を伴う拡散放出挙動を示した。イオン注入前に空気中焼鈍を施した試料では、極めて強い捕獲効果が認められた。先に報告したThOからの放出挙動と比較考察する。
大阪支所
JAERI-M 90-054, 57 Pages, 1990/03
本報告書は大阪支所において昭和61年度に行われた研究活動をまとめたものである。主な研究題目は、ポリイミドフィルムへの鉄の注入、希ガスイオンの注入、メタノールの光化学反応、グラフト重合によるPETの表面改質、エポキシ樹脂の重合、LB膜の電子線重合及び、薄層試料の電子線線量測定の研究等である。
R.A.Verrall*; Hj.Matzke*; 小川 徹; B.J.F.Palmer*
AECL-9475, p.558 - 572, 1986/00
トリア、高燃料模擬トリア、ウラニア中にヨウ素、ルビジウム、クリプトンをイオン注入した。ヨウ素の放出挙動は既に報告されているキセノンの挙動とは異なり、粒内拡散あるいは表面脱着過程に原因が考えられる。高燃焼模擬トリア中のこれらの核分裂生成物の挙動は、通常のトリア中と異ならないことが分った。ヨウ素を注入したウラニアには立方形の気泡状析出物が観察された。熱処理に伴う、同析出物のモルフォロジー変化を調べた。
峰原 英介; 阿部 信市
Nuclear Instruments and Methods, 212, p.533 - 537, 1983/00
He以外の希ガス元素(Ne,Ar,Kr,Xe,Rn)は単体の電子親和力が負であるので単体負イオンとして生成不可能、かつ化合物を作らないので化合物負イオンの生成も不可能と考えられて来た。この為負イオンが加速に不可欠であるタンデム加速器ではこれらの希ガスの加速は不可能と考えられて来た。しかしながらKrとXeについては数値類の弗化物の存在が知られている。したがってこれらの化合物を用いればKrとXeの弗化物負イオンを生成する可能性があると考えられる。原研ではこの弗化物であるKrFとXeFを原料ガスとしてKrFとXeFの生成と分析に初めて成功した。使用したイオン源は横引出し型PIGイオン源である。KrFとXeFの生成は質量分析計による同位体比の測定により確認された。
福田 幸朔; 小川 徹; 鹿志村 悟; 井川 勝市; 岩本 多實; 山本 克宗
Journal of Nuclear Science and Technology, 19(11), p.889 - 902, 1982/00
被引用回数:2 パーセンタイル:32.89(Nuclear Science & Technology)高温ガス炉用TRISO被覆燃料粒子を2本のスィープガスキャプセルで照射し、照射下でのFPガス放出挙動を調べるとともに、この放出測定をもとに被覆粒子破損率を推定した。この被覆粒子破損率を検証するために、被覆粒子の照射後試験を行い、外観検査での破損率及び酸浸出率を測定した。推定破損率と酸浸出率との一致は1試料を除いて良かった。健全粒子からの放出挙動を解析することにより、LTI-PyC中のクリプトンの拡散係数(炉内値)を求めることが出来た。また1600Cにおける破損粒子からの放出が拡散支配であるのに対し、1400Cにおける健全粒子からの放出が反跳と拡散の両機構に支配されていることを確認した。
峰原 英介; 阿部 信市
Nuclear Instruments and Methods, 190, p.215 - 216, 1981/00
He以外での希ガス元素(Ne,Ar,Kr,Xe,Rn)は単体の電子親和力が負であるので単体負イオンとして生成不可能、かつ化合物を作らないので化合物負イオンの生成も不可能と考えられてきた。この為初段加速において負イオンが不可欠であるタンデム加速器ではこれらの希ガス元素の加速が不可能とされて来た。しかしながらKrとXeについては数種類の弗化物の存在が知られている。したがってこれらの化合物を用いればKrとXeの弗化物負イオンを生成する可能性があると考えられる。原研では、この弗化物の1つであるKrFを原料ガスとして、KrFの生成と分析に世界で初めて成功した。使用したイオン源は横引出し型PIGイオン源である。KrFの生成は質量分析計による同位比の測定により確認された。
大塚 徳勝; 山本 忠利; 津久井 公平
Technocrat, 5(9), p.12 - 13, 1972/09
Kr-85照射装置の開発の目的、装置の概要とその特徴、これまで得られた主な研究成果、および本装置を開発する上で、特に技術的に問題となった事項などの要点を概説したものである。
長崎 隆吉; 川崎 了
日本原子力学会誌, 6(11), p.646 - 655, 1964/00
一般に金属中での気体の拡散を測定するには透過性を測る方法が用いられているが、不活性ガスの場合はこの方法を利用することができない。